鹽霧測(cè)試箱為人工環(huán)境三防系列中的一種，主要模擬海洋周邊氣候?qū)Ξa(chǎn)品造成的破壞性；來(lái)檢測(cè)樣品產(chǎn)品是否耐鹽霧腐蝕試驗(yàn)。林頻品牌鹽霧測(cè)試箱是嚴(yán)格按GB/T 5170.1標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行，且此標(biāo)準(zhǔn)包含以下部分：
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法，總則；
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法，溫度試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法，濕熱試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法，鹽霧試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法，太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法，腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法，高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)；
GB/T 5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)；
GB/T 5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，振動(dòng)（正弦）試驗(yàn)用液振動(dòng)臺(tái)；
GB/T 5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，穩(wěn)態(tài)回事度試驗(yàn)用離心機(jī)；
GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備；
GB/T 5170.120-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法，水試驗(yàn)設(shè)備；
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